 | | | 中山 由紀子1)2), 児玉 靖司1)2), 鈴木 啓司1), 横山 兼久2), 渡邉 正己1)2) |
| 1) 長崎大学薬学部保健衛生薬学講座 放射線生命科学教室
2) 科学技術振興事業団 長崎研究室 |
| | Abstract: 酸素ストレスがヒト細胞の分裂寿命に与える影響を調べるために、ヒト胎児細胞HE23、HE31、HE40を7日間を一継代として2種類の低酸素条件(0.5%O2、2%O2)と、コントロールとして20%O2の条件を用いて継代培養したところ、2%O2条件下の細胞では全ての細胞を通じて分裂寿命が最も長く、酸素ストレスの減少による分裂寿命の延長効果が見られた。また、0.5%酸素下では細胞の増殖に必要なエネルギー不足によると思われる形態の変化が確認され、細胞の増殖にとっては酸素不足であると思われた。また、細胞寿命とテロメアの短縮率に相関が見られた。 |
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