@article{2006, title={単眼視ステレオ計測を用いた端子リードの欠陥検出法}, author={渡辺 隆 and 草野 洸 and 藤原 孝幸 and 輿水 大和}, journal={自動制御連合講演会講演論文集}, volume={49}, number={ }, pages={81-81}, year={2006}, doi={10.11511/jacc.49.0.81.0} }