@article{瀬戸屋 孝1995KJ00003207191, title={2B-6 SMDのリフロー時発生するパッケージクラシック シミュレーション技術の検討(第3回信頼性研究発表会REAJ)}, author={瀬戸屋 孝}, journal={日本信頼性学会誌 信頼性}, volume={17}, number={3}, pages={60-61}, year={1995}, doi={10.11348/reajshinrai.17.3_60} }