表面増強赤外吸収スペクトル法による果実表面の残留添加物の分析
1994 年 43 巻 5 号 p. 425-429
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1994 年 43 巻 5 号 p. 425-429
農産物表面の極微量な残留添加物の分析を,転写法を併用した表面増強赤外吸収スペクトル法を用いて行った.実試料の測定に先立ち転写条件の検討(圧力,時間),定量性の検討を行い,その結果に基づき栽培果実表面の測定を試みた.果実4種(海外産のレモン,グレープフルーツ,チェリー,並びに国産温州みかん)の表面を計測したところ,海外産の果実表面より微量なシリコーン樹脂添加剤の吸収が検出された.
