エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第25回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 10C-07
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第25回エレクトロニクス実装学術講演大会
シロキサン系レジストの集束プロトンビーム描画による微細加工と光デバイスの応用
*斉藤 圭祐土屋 龍太郎西川 宏之林 秀臣
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抄録
プロトンビーム描画(以下PBW)とは、集束陽子線を直接描画するリソグラフィー技術の一つである。高エネルギー陽子線は物質内での直進性と侵入深さに特徴があり、低ラフネス、超深度加工などのメリットがある。PDMS(Polydimethylsiloxane)は、無色透明で生体適合性が高いため、マイクロ流路やバイオデバイスに広く使われている。膜厚13μmのPDMSはPBWに対してネガ型レジストとしての挙動を示した。また、照射量とともにパターン残存膜も増加するというアナログレジストの挙動も見られた。マイクロレンズを模擬して、直径15~40μm、高さが13μmの曲面を作製することができた。
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© 2011 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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