エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第37回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 13A1-1
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第37回エレクトロニクス実装学術講演大会
待機モード IC からの配線テスト可能なバウンダリスキャン設計についての検討
*有元 康滋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
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会議録・要旨集 認証あり

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