2015 年 23 巻 p. 88-95
スケルトンナノ粒子の機能性発現の鍵となる微構造解析を小角X線散乱(SAXS)を中心に行った.中空粒子のSAXS散乱関数から,シェルを構成するシロキサン結合に欠陥が存在し,これがスケルトン粒子のフレームにも存在することが示唆された.SAXS-PDDFプロファイルに見られた電子密度分布の偏りは,シリカフレームの特異な構造を表している.これらの結果から,欠陥を持つことでシリカフレームに特異な光学的,熱的散乱が起こると考えられ,機能性発現の一因を担っていることが示唆された.