ホソカワ粉体工学振興財団年報
Online ISSN : 2189-4663
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平成25年度 研究助成成果報告
スケルトン構造を持つシリカナノ粒子の微構造解析と物性評価に関する研究
高井 千加
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研究報告書・技術報告書 オープンアクセス

2015 年 23 巻 p. 88-95

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抄録

スケルトンナノ粒子の機能性発現の鍵となる微構造解析を小角X線散乱(SAXS)を中心に行った.中空粒子のSAXS散乱関数から,シェルを構成するシロキサン結合に欠陥が存在し,これがスケルトン粒子のフレームにも存在することが示唆された.SAXS-PDDFプロファイルに見られた電子密度分布の偏りは,シリカフレームの特異な構造を表している.これらの結果から,欠陥を持つことでシリカフレームに特異な光学的,熱的散乱が起こると考えられ,機能性発現の一因を担っていることが示唆された.

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