本研究は，電子画像記録の記録媒体として普及している高密度書換え形光ディスクの信頼性寿命を評価し，環境信頼性に対する標準測定手法を確立することを目的としている．本論文は，相変化光ディスクを用い，高温高湿加速試験（80°C，85%RH）を施した後，一般室内環境下で保管試験を実施し，信頼性寿命の推定及び寿命に影響を与える要因について検討したものである．寿命評価には，指標として光ディスク再生信号のバイトエラー率（BER: Byte Error Rate）を用い，光ディスクの任意領域のBER評価が可能な専用測定系を構築した．実験結果より，相変化光ディスクの信頼性寿命は，推定50∼100年という長期間であることを確認すると共に，信頼性寿命には，相変化膜の初期化状態やデータ記録時の記録速度が影響を与えることを明らかにした．
