91 巻 (1983) 1058 号 p. 470-472
フロート法板ガラスとフロート法によらない板ガラスを収集して試料にした. 残留表面応力を表面伝ぱ光を用いた散乱光光弾性法 (バイアスコープ) と断面光弾性法とで測り, 測定値を比べた. バイアスコープ法は高い圧縮応力を与えるか又はより小さい引っ張り応力を与えるかであった. 断面光弾性法では観察できない薄い表面層が内部よりも低膨張になっていると推測された. 低膨張化の原因は製造工程中での表面からのNa+イオン又はNa2Oの逸散, 蒸発であろう.