連続X線と半導体検出器を用いたX線デバイ温度の決定

日本結晶学会誌

Online ISSN : 1884-5576
Print ISSN : 0369-4585
ISSN-L : 0369-4585

連続X線と半導体検出器を用いたX線デバイ温度の決定

柏瀬和司

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ジャーナルフリー

1980 年 22 巻 3 号 p. 286-291

DOI https://doi.org/10.5940/jcrsj.22.286

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