日本結晶学会誌
Online ISSN : 1884-5576
Print ISSN : 0369-4585
ISSN-L : 0369-4585
X線反射法による表面・界面ラフネスの研究
中西 正典坂田 修身橋爪 弘雄
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1993 年 35 巻 Supplement 号 p. 42

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© 日本結晶学会
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