日本結晶学会誌
Online ISSN : 1884-5576
Print ISSN : 0369-4585
ISSN-L : 0369-4585
TEM-EELSによる電子状態分析
木本 浩司
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2005 年 47 巻 1 号 p. 67-72

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抄録

Electron energy-loss spectroscopy (EELS) in transmission electron microscopy (TEM) is briefly reviewed. The outline and a few experimental results of elemental and chemical analysis are shown. Recent progress in TEM-EELS, such as monochromator for high energy resolution and spectrum imaging, are also presented.

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