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日本作物学会紀事
Vol. 75 (2006) No. 4 P 579-582

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http://doi.org/10.1626/jcs.75.579

連載ミニレビュー

作物個体群は一般に複雑な三次元的構造を有し,さらにそれが時間的,空間的に変動する.作物診断,栽培・育種研究支援,品質把握から精密農業に至るまで,作物学の広範な応用分野において,非破壊・非接触で作物の形態情報を取得する技術開発の意義は大きい(井上2006).本稿では,作物の葉群構造を探査する目的で作物個体群反射光の偏光情報を測定する方法を紹介する.作物個体群反射光に含まれる偏光成分の多くは個体群表層部の葉表面における反射によって生起し,その強度は,照明,観測および反射面相互の相対角度関係に依存する(Vanderbiltら 1985).個体群を上方から照らす太陽光の反射光を斜め上から観測する場合,一般に葉の着生角度が垂直葉型よりも水平葉型に近いほど偏光は強く観測される(Talmage and Curran 1986).葉面の傾斜角分布などをパラメータとする偏光推定モデルが提案されているが(Rondeaux and Herman 1991),偏光情報から葉群構造を定量的に推定する方法は研究途上である(Herman and Vanderbilt 1997).

Copyright © 2006 日本作物学会

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