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日本作物学会紀事
Vol. 76 (2007) No. 2 P 339-341

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http://doi.org/10.1626/jcs.76.339

連載ミニレビュー

X線微小部分析電子顕微鏡で使用するエネルギー分散型分析法(EDX分析法)は,数ミクロン以下に絞り込んだ電子線を,透過型あるいは走査型電子顕微鏡内の超薄切片や組織表面の微小部に照射し,発生するK線,L線,M線などの特性X線から,測定部位に存在する無機構成元素を判定する.点分析法,線分析法,面分析法などがある.水平・Russ(1978),Morgan(1985),合志・佐藤(1989)などの図書に,その操作法が記述されている.本稿では,透過型電子顕微鏡で含リン顆粒すなわちフィチン顆粒を点分析した方法などを述べる.

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