バウンダリスキャンテストとインサーキットテストの併用によるテスタビリティの向上

エレクトロニクス実装学会誌

Online ISSN : 1884-121X
Print ISSN : 1343-9677
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特集／バウンダリスキャン技術の最新動向

バウンダリスキャンテストとインサーキットテストの併用によるテスタビリティの向上

水野孝一

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2021 年 24 巻 7 号 p. 653-658

DOI https://doi.org/10.5104/jiep.24.653

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