エレクトロニクス実装学会誌
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テストLSIを用いたプリント板からの電磁放射低減に関する検討
芳賀 知中野 健須藤 俊夫橋本 修
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2002 年 5 巻 6 号 p. 559-567

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抄録

LSIの動作モードが設定可能なテストLSIを開発し, 動作モードと放射との関連, 放射の支配的要因の推測, さらに放射低減について検討を行った。その結果, バッファ出力が外部トレースを駆動する動作モードでの放射が大きいこと, さらに近傍磁界強度分布の測定からLSI搭載部において大きな高周波電流のループが形成されていることがわかった。そして, このループがプリント板の電源・グラウンド部を励振し, 高周波電流がプリント板上に広く分布することにより, 放射が発生していることがわかった。そこで, LSIパッケージ部にフェライトを装荷する対策, また, 銅板で覆う対策を実験し, LSI搭載部での対策が有効であることを確認した。

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© 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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