日本結晶成長学会誌
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表面X線回折でみた有機超薄膜の構造(<特集>応用を視野においた有機半導体の結晶成長)
吉本 則之
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2009 年 35 巻 4 号 p. 271-275

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抄録

有機半導体薄膜の評価技術として微小角入射X線回折(GIXD)を取り上げ,ペンタセンと3種類のオリゴオリゴチオフェン薄膜についての測定結果を紹介する.ペンタセンでは膜厚に依存する多形転移をin-plane GIXDで観測した.また,オリゴオリゴチオフェンでは,末端官能基の違いによって,分子配列の秩序性が異なり,膜厚に依存して異なる面内構造が観察された.これらの結果から有機半導体薄膜の成長初期過程のGIXD観察が可能であり,結晶成長制御のめの有効な評価法であることが示される.

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© 2009 日本結晶成長学会
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