主催: 一般社団法人日本物理学会
会議名: 2017年度日本物理学会第72回年次大会
開催日: 2017/03/17 - 2017/03/20
ドリフトチェンバーに使用されるワイヤーは長期間放射線を照射されると、表面にガスや不純物の化合物が付着する。これは、ゲインの低下やノイズの増加などのエージング効果を及ぼす。COMET実験のCDC(円筒型ドリフトチェンバー)でのエージング効果によるゲインの低下を知るために、テストチェンバーを作製しHe/iC_4_H_10_(90/10)ガスによる影響を調べる。本公演では、テストチェンバーの作製とそのエージングの影響を報告する。