28p-G-2 整数量子ホール効果状態のbreakdown現象 : 試料依存性(半導体(量子ホール効果,超格子))

年会講演予稿集

Online ISSN : 2433-1139

セッションID: 28p-G-2

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyod.44.2.0_124_1

会議情報

28p-G-2 整数量子ホール効果状態のbreakdown現象 : 試料依存性(半導体(量子ホール効果,超格子))

高増正, 小宮山進, 冷水佐寿, 佐々誠彦

著者情報

会議録・要旨集フリー

詳細

記事の1ページ目

著者関連情報

© 1989 一般社団法人日本物理学会

お気に入り & アラート

関連記事

閲覧履歴

前身誌

日本物理学会年会講演予稿集

年会予稿集

後続誌

日本物理学会講演概要集

日本物理学会講演概要集. 年会

Top