XFEL用Multi-Port CCD検出器の放射線耐性評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第58回春季応用物理学関係連合講演会

セッションID: 26p-EA-16

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2011.1.0_509

会議情報

主催: 社団法人応用物理学会

会議名: 春季応用物理学関係連合講演会

回次: 58

開催地: 神奈川工科大学

開催日: 2011/03/24 - 2011/03/27

XFEL用Multi-Port CCD検出器の放射線耐性評価

*小野峻, 亀島敬, 桐原陽一, 初井宇記, 工藤統吾, 小林和生, 堀米利夫, 西野吉則, Andrew Holland, Karen Holland, 大沢仁志, 矢橋牧名, 石川哲也

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キーワード: 26p-EA-16, 放射線, 放射線物理一般・検出器基礎, SPring-8

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