金属探針表面局所電位変調によるGaAs表面トラップ位置の評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第77回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 13p-C42-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.2.0_1860

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 77

開催地: 朱鷺メッセ

開催日: 2016/09/13 - 2016/09/16

金属探針表面局所電位変調によるGaAs表面トラップ位置の評価

*佐藤将来, 殷翔, 黒田亮太, 葛西誠也

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キーワード: 13p-C42-8, 応用物性, ナノエレクトロニクス, ナノ物性と機能, GaAsナノワイヤ, ランダムテレグラフシグナル, 原子間力顕微鏡

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