走査型非線形誘電率顕微鏡と静電気力顕微鏡を用いたSiO<sub>2</sub>上剥離WSe<sub>2</sub>におけるキャリア分布観察

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第79回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 18p-224B-11

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2018.2.0_3735

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 79

開催地: 名古屋国際会議場

開催日: 2018/09/18 - 2018/09/21

走査型非線形誘電率顕微鏡と静電気力顕微鏡を用いたSiO₂上剥離WSe₂におけるキャリア分布観察

*山末耕平, 加藤俊顕, 金子俊郎, 長康雄

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キーワード: 18p-224B-11, ナノカーボン, 層状物質, 構造観察評価, 層状物質, 走査型非線形誘電率顕微鏡, 遷移金属ダイカルコゲナイド

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