FeTe<i><sub>x</sub></i>Se<sub>1-<i>x</i></sub>単結晶への微細加工素子を用いた対破壊電流密度測定

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第66回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 11p-S423-14

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2019.1.0_2079

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 66

開催地: 東京工業大学大岡山キャンパス

開催日: 2019/03/09 - 2019/03/12

FeTe_xSe_1-x単結晶への微細加工素子を用いた対破壊電流密度測定

大沼遥, 孫悦, 峯直輝, 野地尚, 小池洋二, 為ヶ井強, 鮎川晋也, *北野晴久

著者情報

キーワード: 11p-S423-14, 超伝導, 基礎物性, 新超伝導材料，新評価技術，その他, 鉄カルコゲナイド超伝導体, 臨界電流密度

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