近接場顕微鏡における表面走査による奥行き構造観察技術の開発

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第67回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 13p-B415-6

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2020.1.0_687

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 67

開催地: 上智大学四谷キャンパス

開催日: 2020/03/12 - 2020/03/15

近接場顕微鏡における表面走査による奥行き構造観察技術の開発

*佐尾真侑, 竹田悟, 川田善正

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キーワード: 13p-B415-6, 光・フォトニクス, 情報フォトニクス・画像工学, コンピュテーショナルイメージング, 近接場顕微鏡

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