スマートプロセス学会誌
Online ISSN : 2187-1337
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無電解Ni/Pd/Au めっきにおけるはんだボール接続信頼性 -無電解Pd めっき膜厚の影響-
江尻 芳則納堂 高明高橋 昭男櫻井 健久荒山 貴慎坪松 良明長谷川 清
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2016 年 5 巻 4 号 p. 221-228

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抄録

We investigated the influences of Pd film thickness of electroless Ni/Pd/Au plating on the solder ball joint reliability during reflow cycles and thermal aging, using high-speed solder ball shear test. As the solder ball, Sn-3.0Ag-0.5Cu solder ball was studied. After multiple reflow cycles and thermal aging, we found that the optimum thickness of Pd film with Sn-3.0Ag-0.5Cu solder ball was 0.05-0.2 μm.

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© 2016 一般社団法人 スマートプロセス学会
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