惑星探査用蛍光X線分光計のデータ解析手法の開発

抄録

固体惑星表層の主要元素を定量的に分析するには、蛍光X線分光観測が最も有効な手段である。XRSは、惑星表層と標準物質とを同時に観測し、標準試料法と呼ばれる解析手法を行う。本研究では、Masuda (2002)で開発されたインバージョン問題的な分析手法を改良し、フォワード問題を解いて、誤差を伝播させ、最尤推定法を行う手法を新たに開発した。また、解析的に初期値を求める手法を開発した。本発表では、はやぶさXRSのデータ解析を交えながら、本手法を紹介する。