表面科学
Online ISSN : 1881-4743
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研究紹介
生細胞表面のナノスケールの形状観察を実現する走査型イオンコンダクタンス顕微鏡の開発
井田 大貴高橋 康史珠玖 仁末永 智一
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キーワード: sicm, spm, topography imaging, live cell, secm
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2015 年 36 巻 6 号 p. 313-318

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抄録

Live cell imaging is important to understand the cell function such as membrane dynamics. Scanning probe microscopy (SPM) is used for evaluation of cell surface topography with nano-scale, but in most cases the measurement induced cell damage when probe contact with the cell surface. Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) uses ion current as a feedback signal for nanopipette probe-sample distance control. SICM allows non-contact live cell imaging and high-resolution characterization of dynamic changes of cell surface. Furthermore, SICM can combine with other analytical tool as distance control technique.

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