Applications of Electron Holography to Magnetic Domain Structure Analysis

Akira TONOMURA

doi:10.1380/jsssj.13.9_546

電子線ホログラフィーの磁区構造解析への応用

外村彰

著者情報

ジャーナルフリー

1992 年 13 巻 9 号 p. 546-550

DOI https://doi.org/10.1380/jsssj.13.9_546

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発行日: 1992/11/10 受付日: 1992/06/11 J-STAGE公開日: 2009/08/07 受理日: 1992/06/11 早期公開日: - 改訂日: -
訂正情報
訂正日: 2009/08/07 訂正理由: - 訂正箇所: 引用文献情報訂正内容: Wrong : 1) D. Gabor : Proc. R. Soc. London A 197, 454 (1949).
2) E. N. Leith and J. Upatnieks : J. Opt. Soc. Amer 52, 1123 (1962).
3) A.Tonomura, T. Matsuda, J.Endo, H.Todokoro and T. Komoda: J. Electron Microscopy 28, 1 (1979).
4) G. Möllenstedt and H.Düker : Naturwissenschaften 42, 41 (1955).
5) H.-W. Fink, W. Stocker and H. Schmid : Phys-Rev. Lett. 65, 1204 (1990).
6) A. Tonomura, T. Matsuda, J. Endo, T. Arii and K. Mihama : Phys. Rev. Lett. 44, 1430 (1980).
7) A. Tonomura, T. Matsuda, H. Tanabe, N. Osakabe, J. Endo, A. Fukuhara, K. Shinagawa and H. Fujiwara : Phys. Rev. B25, 6799 (1982).
8) E. E. Huber, Jr., D. O. Smith and J. B. Goodenough : J. Appl. Phys. 29, 6799 (1958).
9) N. Osakabe, K. Yoshida, Y. Horiuchi, T. Matsuda, H. Tanabe, T. Okuwaki, J. Endo, H. Fujiwara and A. Tonomura : Appl. Phys. Lett. 42, 746 (1983).
10) T. Matsuda, S. Hasegawa, M. Igarashi, T. Kobayashi, M. Naito, H. Kajiyama, J. Endo, N. Osakabe, A. Tonomura and R. Aoki Phys. Rev. Lett. 62, 2519 (1989).
11) B. I. Halperin and D. R. Nelson : J. Low Temp-Phys. 36, 599 (1979).

Right : 1) D. Gabor : Proc. R. Soc. London A 197, 454 (1949).
2) E. N. Leith and J. Upatnieks : J. Opt. Soc. Amer 52, 1123 (1962).
3) A.Tonomura, T. Matsuda, J.Endo, H.Todokoro and T. Komoda: J. Electron Microscopy 28, 1 (1979).
4) G. Möllenstedt and H.Düker : Naturwissenschaften 42, 41 (1955).
5) H.-W. Fink, W. Stocker and H. Schmid : Phys-Rev. Lett. 65, 1204 (1990).
6) A. Tonomura, T. Matsuda, J. Endo, T. Arii and K. Mihama : Phys. Rev. Lett. 44, 1430 (1980).
7) A. Tonomura, T. Matsuda, H. Tanabe, N. Osakabe, J. Endo, A. Fukuhara, K. Shinagawa and H. Fujiwara : Phys. Rev. B25, 6799 (1982).
8) E. E. Huber, Jr., D. O. Smith and J. B. Goodenough : J. Appl. Phys. 29, 6799 (1958).
9) N. Osakabe, K. Yoshida, Y. Horiuchi, T. Matsuda, H. Tanabe, T. Okuwaki, J. Endo, H. Fujiwara and A. Tonomura : Appl. Phys. Lett. 42, 746 (1983).
10) T. Matsuda, S. Hasegawa, M. Igarashi, T. Kobayashi, M. Naito, H. Kajiyama, J. Endo, N. Osakabe, A. Tonomura and R. Aoki Phys. Rev. Lett. 62, 2519 (1989).
11) B. I. Halperin and D. R. Nelson : J. Low Temp-Phys. 36, 599 (1979).

抄録

電子線ホログラフィーは電子の波動性を利用した二段階の結像法である。この手法により,物体で影響を受けた電子線の波面が光の波面に変換される。いったん光に変換されてしまえば,電子顕微鏡の中では困難だったことも光学技術を駆使して可能性が開ける。実例が干渉顕微鏡である。サンプルを透過した電子線の位相変化が等高線の形で表示される。サンプルが磁場の場合,等高線は磁力線に沿い,しかも一定の微小磁束(h/e)ごとに現れる。この手法によって,強磁性薄膜や微粒子の磁区構造や超伝導体を貫く磁力線が詳細に定量的に観察できるようになった。

責任著者(Corresponding author)

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