電子顕微鏡
Print ISSN : 0417-0326
超高圧電子顕微鏡用高温雰囲気試料筒の開発とその応用
小松 正雄森 博太郎
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1998 年 33 巻 1 号 p. 5-9

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© 社団法人日本顕微鏡学会
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