本研究では、SiO2ガラスと類似した構造を持つと考えられているGeO2 成分を、SiO2ガラスに混合することにより、その衝撃挙動に現れる変化をさぐるために、GeO2及び80GeO2-20SiO2ガラスについて衝撃実験を行い、その構造の変化をＸ線回折法、ラマン分光法より調べた。 X線散乱強度のFSDP(First Diffraction Peak)の解析により、GeO2成分の増加に伴い、より低い衝撃圧で中距離構造の変化、ならびに衝撃圧の残留熱による構造緩和が生じていることが明らかになった。また、ラマンスペクトルの解析により、この中距離構造の変化が、(Si,Ge)O4四面体のネットワーク構造中の結合角(_丸右_T-O-T：T=Si,Ge)の減少ならびに(Si,Ge)O4四面体の3員環構造の増加であることを明らかにした。
