抄録
三次元電子顕微鏡法 (Transmission Electron Microtomography, TEMT) では計算機断層再構成法 (Computerized Tomography, CT) を実行するために試料を回転させ, 多数の透過像を得る必要がある. しかし, 試料を傾斜させると試料の透過率が著しく低下するという理由により, 傾斜角度範囲は±70°程度に制限される. 試料の形状による傾斜角度範囲の制限を回避するために, 傾斜にともなう透過率の低下が低いと考えられる角柱状試料を作製し, TEMTにおいて, 試料の形状が三次元再構成画像に与える影響について考察した. 試料として, 同じブロック共重合体から構成されるフィルム状 (板状) 超薄切片 (厚み200nm) と角柱状切片 (一辺200nm) の2種類の形状の試料を用意した. 角柱状切片を用いることで, 透過率の低下を効果的に抑制することができ, 三次元像における画質の改善に成功した. さらに透過率がある一定値を下回る場合, CT法による三次元再構成に有効に寄与しないことがわかった.
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