まてりあ
Online ISSN : 1884-5843
Print ISSN : 1340-2625
ISSN-L : 1340-2625
(5)TEM/STEM による材料組織解析
エネルギーフィルター搭載超高圧電子顕微鏡法による極厚膜試料中の転位観察
定松 直, 田中 將己, 東田 賢二, 松村 晶
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2016 年 55 巻 12 号 p. 597

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