まてりあ
Online ISSN : 1884-5843
Print ISSN : 1340-2625
ISSN-L : 1340-2625
エネルギー可変陽電子消滅法によるSiO2/Si系半導体材料欠陥解析
藤浪 真紀
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1996 年 35 巻 2 号 p. 154-159

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