脳と発達
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脳の発達の形態計測学的評価法について
後藤 昇山口 勝之奈良 隆寛野崎 秀次中江 陽一郎浜野 晋一郎
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1988 年 20 巻 4 号 p. 308-313

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抄録

ヒト胎児脳の発達を形態学的に詳しく理解するための方法として形態計測学的な観察法ならびに評価法を工夫したので, その概略を報告した. 本法を構成する主要なものはクロム酸二次固定を採用したセロイジン連続切片法, 顕微鏡描画装置, 画像解析装置, コンピューター入力および解析の組合わせからなり, 顕微鏡レベルまでをも含めて得られた種々の解剖学的パラメーターによって脳の発達を多角的, 総合的, 定量的に評価することができる有力な手段である.

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© 日本小児小児神経学会
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