応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
金属膜成長初期過程の高感度測定法
薄膜光導波路の一応用法
山口 十六夫, 高橋 秀年, 須藤 彰良
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1978 年 47 巻 9 号 p. 893-897

[Correction] OYOBUTURI Vol.48 No.1 (1979) pp.82-82
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