応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
走査型トンネル顕微鏡による表面観察
市ノ川 竹男
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1985 年 54 巻 7 号 p. 682-686

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抄録

固体表面の形状や原子配列を原子像として直接観察できる新しい方法として,走査型トンネル顕微鏡 (Scanning Tunneling Microscopy) が最近Binningらによって開発された.この方法の原理,装置および固体表面観察に応用したいくつかの例を説明し,固体表面の原子配列を研究するのに有力な方法であることを示す.また,この方法の問題点にも触れる.

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© 社団法人 応用物理学会
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