早稲田大学理工学部応用物理学科
1985 年 54 巻 7 号 p. 682-686
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固体表面の形状や原子配列を原子像として直接観察できる新しい方法として,走査型トンネル顕微鏡 (Scanning Tunneling Microscopy) が最近Binningらによって開発された.この方法の原理,装置および固体表面観察に応用したいくつかの例を説明し,固体表面の原子配列を研究するのに有力な方法であることを示す.また,この方法の問題点にも触れる.
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