無機材質研究所
1990 年 59 巻 3 号 p. 358-369
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透過型電子顕微鏡の結像原理を述べる.最初に回折コントラストと位相コントラストの形成機構を比較する。次に,結晶格子像の最も簡単な場合である二波干渉じまの強度および波面収差について説明する。さらに多波格子像の特別な場合である結晶構造像の出現を,弱位相物体近似下で考察するとともに,実際の結晶の場合への展開を試みる.最後に加速電圧,レンズ電流の不安定性およびビームの収束に起因する干渉性の低下,ならびに,それにより規定される解像限界について述べる.
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