応用物理
Online ISSN : 2188-2290
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スピン偏極走査トンネル顕微鏡の試み
武笠 幸一末岡 和久早川 和延
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1994 年 63 巻 3 号 p. 263-267

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抄録

表面磁性の評価法として,走査トンネル顕微鏡 (STM) が使われようとしている. GaAs試料, Ni探針を用いたSTMで,両者のスピンの偏りに依存したトンネル電流の検出に成功した.これは,磁性体試料の磁気的状態に影響を与えることのない汎用的スピン偏極STMの実現が可能であることを示すものである.本稿ではこの検証実験について,スピン偏極に関するトンネル分光の流れとともに紹介する.

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© 社団法人 応用物理学会
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