日本原子力研究所 関西硝究所放射光利用研究部
NEC基礎研究所
1999 年 68 巻 11 号 p. 1271-1274
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放射光X線の特長の一つである波長選択性を利用した,新しい局所構造解析法について説明する.これは吸収分光法と回折法とを組み含わせたもので, “DAFS”とよばれている.これをスパッタ法で作成されたSrTiO3薄膜試料の構造冊究に適用することにより,基板界藏に異相の存在が示唆された.
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