名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻
2002 年 71 巻 4 号 p. 453-458
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結晶表面からのX線回折について,結晶表面に垂直な方向に伸びる棒状の散乱, OTR散乱 (Orystai Truncation Rod Scattering) を中心に説明する.そして, CTR散乱による結晶表面および界面の原子レベルでの評価法について,その基本原理を解説する.
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