蛍光体への低速電子線侵入深さの測定技術
2002 年 71 巻 5 号 p. 571-575
詳細
2002 年 71 巻 5 号 p. 571-575
低速電子線の蛍光体内への侵入深さについて評価を行っている.この測定のためには,蛍光体に入射する低速電子線のエネルギーを正確に測定する必要がある,われわれは,試料上部にメッシュ電極を設置し,電極の電流一電圧特性を調べることにより,一定の条件下における電子線の照射工ネルギーを測定する方法を確立した.この方法により,蛍光体に電子線が照射された場合,蛍光体層において電圧降下が生じていること,実際の励起エネルギーは陽極電圧よりも低いことなどが定量的に示された.この方法を用いて得られた入射電子のエネルギーに対する蛍光体への侵入深さは,電圧降下を考慮しない従来の関係式から得られる侵入深さに比べて深いことが明らかとなった.
