日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
第22回秋季シンポジウム
セッションID: 3E18
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強誘電体薄膜のストレスエンジニアリング
*鈴木 久男大野 智也符 徳勝坂元 尚紀脇谷 尚樹松田 剛
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抄録
強誘電体薄膜の電気特性は組成、配向性あるいは残留応力などのいくつかの重要な因子に大きな影響を受ける。特に、残留応力は強誘電体薄膜の圧電特性や強誘電特性に大きな影響がある。本研究では、強誘電体薄膜のストレスエンジニアリングについてそのコンセプトと戦略を述べる。
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©  日本セラミックス協会 2009
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