産業環境用位置計測端末の開発

杉山 朋宏; 野間 大輔; 岩崎 哲; 大和 裕幸; 板生 清; 保坂 寛; 佐々木 健

doi:10.11522/pscjspe.2003A.0.629.0

2003年度精密工学会秋季大会

セッションID: K78

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2003A.0.629.0

会議情報

主催: 社団法人精密工学会

新しい測定技術

産業環境用位置計測端末の開発

*杉山朋宏, 野間大輔, 岩崎哲, 大和裕幸, 板生清, 保坂寛, 佐々木健

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キーワード: 位置計測, 金属

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抄録

現在一般的に用いられている位置情報取得システムは屋外利用が中心であり，屋内環境における位置情報取得には有効な手段が無いのが現状である．理由の1つに金属等の周囲環境の影響による位置精度の低下が挙げられる．本研究では，実験およびシミュレーションを用いて周囲環境による位置精度への影響を評価し，この結果をもとに作業環境における位置計測システムの開発および最適化を図った．

責任著者(Corresponding author)

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