主催: 社団法人精密工学会
東京工業大学 大学院情報理工学研究科 計算工学専攻
東京工業大学 工学部 情報工学科
東レエンジニアリング エレクトロニクス事業本部
東レエンジニアリング エレクトロニクス事業本部 技監
東レエンジニアリング 開発センター 2G-2T
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精密加工品のナノメートル単位の表面形状計測には,位相シフト法がよく用いられる.この手法は,複数の画像の情報を利用するためデータ取得中の振動等の影響を受けやすい.この問題を解決すべく,一枚の画像の情報から表面形状を計測する手法が提案されているが,急峻な段差形状を精度良く計測することは未だ困難である.そこで本論文では,一枚の画像から急峻な段差形状を高精度で計測できる測定法を提案する.
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