1973 年 22 巻 9 号 p. 485-491
RIけい光X線分析における最も適した幾何学的条件を求める目的で, いろいろな大きさの試料および線源を用いて, 試料の位置, 線源の位置, 線源と試料との距離を変えた場合について, 特性X線強度の変化を調べた。線源ホルダーの大きさφ'が検出器の大きさξに比べて小さい場合φ'≦ξ/3でかつ, 試料が十分に大きい場合にのみ (φ>0.6ξ) , “Central Source Geometry”が適していて, それ以外の場合には“Side Source Geometry”にするのが望ましいことがわかった。
また, 十分大きい試料の場合, 線源の位置Yをずっと横に置くことによって, 特性X線強度は若干落ちるが, 線源と試料との距離Dの変動による誤差はかなり小さくできることを確かめた。