名古屋大学アイソトープ総合センター分館
1985 年 34 巻 2 号 p. 78-82
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125Iによる表面汚染を現場で定量できるNaI (Tl) シンチレーション式サーべイメータを作成し, その性能を調べた。サーベイメータは4種類のウインド (1) 20-45keV, (2) 45-80keV, (3) 20-80keV, (4) 80keV-を持っている。放射能はサムピーク法に基づいて計算した。点線源に対し約10%の誤差で定量できた。検出器表面と同一の面線源に対して模擬計算を行い約10%の誤差で定量できることを明らかにした。
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