加速信頼性試験とその課題(信頼性試験)
2015 年 37 巻 4 号 p. 154-161
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2015 年 37 巻 4 号 p. 154-161
耐用寿命の予測,及び製造工程での欠陥による初期不良の除去(スクリーニング)のために短期間で実使用上ストレスを加速する加速信頼性試験が用いられている.この加速試験の考え方と半導体,電池(リチウムイオン二次電池)での事例を紹介する.加速試験では,加速要因を明確にすると共に,加速限界を十分に注意しなければ誤った信頼性予測となることも示す.また,寿命のバラツキの原因となるEOS(過電圧過電流),ESD(静電気)について,海外展開時に問題となった事例を報告する.
