IoT時代の分散型ICテストシステム
2017 年 39 巻 5 号 p. 291-296
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2017 年 39 巻 5 号 p. 291-296
IoT（Internet of Things）として説明される社会トレンドは，半導体デバイスがこれまで以上に社会基 盤そのものを支える基幹部品となることに他ならない．半導体デバイスはありとあらゆるところに設置 されるようになっており，ときにはその品質によって大きな損失を生じる恐れがある．このような状況 をかんがみると，半導体デバイスの機能・性能を検査し，品質を担保するテスト（以降，IC テストと呼 ぶ）が重要となることは自明であるといえよう．本稿では，IC テストの目的と傾向，課題について解説 し，我々が取り組んでいる「クラウドを活用した IC テスト環境／システム」について紹介する．
