主催: 社団法人 日本表面科学会
京大工
京大工 JST-CREST
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近年、生体試料における質量イメージング技術の発展が期待されている。SIMSは高真空下での分析手法であるが、高速重イオンをプローブとすることにより低真空下でのSIMSに成功した。本発表では、数千Pa程度の低真空下で質量イメージングを行うための分析系の開発とその結果について報告する。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
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