有機半導体の電子構造評価における紫外光電子分光および光電子収量分光の比較

抄録

有機半導体の電子構造解析に紫外光電子分光(UPS)が広く用いられる一方、デバイス分野ではイオン化ポテンシャル（IP）測定に光電子収量分光(PYS)が使われてきた。しかし、両手法には検出IPや検出深度に違いがあると指摘されている。そこで本講演ではNPB-Au界面電子構造を両手法で同一測定系にて比較した結果よりUPSの修正解析法を提案する。また、検出深度比較からPYSの界面電子構造評価の有効性についても議論する。